仪器名称：电子探针
英文名称：Electron Probe Micro-analyzer
仪器型号：JXA8230
生产厂家：日本电子、牛津仪器
主要部件：电子探针、X射线谱仪、INCA能谱仪（英国牛津仪器）、阴极发光系统、真空喷镀仪
主要技术指标：
检测元素范围：5B～92U
样品尺寸：长条形薄片长度47-49mm，标准宽度；光片或圆形光薄片直径小于25mm
加速电压：0.2～30kV，束流电流范围：10-12～10-5 A
图像理想分析率：二次电子像：6nm，背散射电子像：≤ 20nm（15keV）；分光晶体：TAP、LDE2、LiF、PET，LDE5H、LDE6H多层镀膜晶体；放大倍率：40×～300,000×
应用领域：岩石学、矿物学、矿床学、陨石学、宝石和材料科学等
分析内容：①分析测试：微区定性分析、半定量分析、定量分析、元素线扫描和面扫描；②图像观测：阴极射线（CL）、背散射电子（BSE）和二次电子（SE）图像
仪器负责人：陈宏毅，实验师；E-mail：hongyi@glut.edu.cn
刘奕志，实验师；E-mail：liuyizhiglut@glut.edu.cn
